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高通量表面等离子共振分子互作分析仪High-throughput and high-sensitivity SPR system

仪器技术参数

1 硬件技术参数

1.1 检测原理:表面等离子共振原理(SPR)

1.2 样品上样和注射:全自动

1.3 自动进样器方式:内置

1.4 芯片偶联包被方式:内置,无需另置其他仪器

1.5 芯片偶联包被自动化程度:全自动,无需设备外手动操作

1.6 检测通道数:≥16

1.7 进样针数:≥8

1.8 最小进样体积:不高于1μl

1.9 信号参比:双参比系统,在线空白参比+零浓度参比

1.10 分析检测温控范围:4-40 ℃

1.11 样品舱温控范围:4-40 ℃

1.12 样品舱和分析温度低于室温时是否需要放冷室?否

1.13 无人值守不间断运行时间:不低于60小时

1.14 样品架范围:同时支持96孔板、384孔板两种类型

1.15 一次性载入微孔板数量:≥4

1.16 一次性载入最大样品数量:≥1536

1.17 需同时兼容深孔板和浅孔板

1.18 检测折射率范围:1.33-1.40

1.19 样品采样分析速度:不低于10Hz (不低于10个/每秒)

1.20 基线噪声:≤0.02 RU (RMS,1RU in SPR=1 pg/mm2=1pm in BLI)

1.21 有机分子量检测限制:无分子量限制

1.22 实际基线漂移:< ± 0.03 RU/min

1.23 最低样品浓度:不高于1 pM

1.24 Ka:103-109M-1s-1

1.25 Kd:10-6-0.5s-1

1.26 KD:10-15-10-3M

1.27 传感器芯片种类:≥ 15种

1.28 芯片使用重复性:至少100次以上

1.29 同时检测16通道样品所需要的芯片数量:不高于1




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