分子束外延与原位表面分析

• 高通量激光分子束外延(LMBE)
• 角分辨光电子能谱(ARPES)
• 反射式高能电子衍射(RHEED)
• 低能电子衍射(LEED)
• X射线光电子谱(XPS)
• 扫描隧道显微镜(STM)
• 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)

高通量薄膜样品制备

• 高通量激光分子束外延(LMBE)
• 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)

低温原位能带-形貌-输运-组分-价态联合分析

• 扫描隧道显微镜(STM)
• X射线光电子能谱(XPS)
• 角分辨光电子能谱(ARPES)

高分辨三维自旋电子能带分析

• 角分辨光电子能谱(ARPES)

样品形貌-输运-界面电子态分析

• 扫描隧道显微镜(STM)

材料组分分布-价态-深度剖析

• X射线光电子能谱(XPS)

微区形貌-粒径-三维尺寸分析

• 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM)
• 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）
• 场发射环境扫描电镜（SEM）
• 环境控制原子力显微镜(AFM)
• 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)

微区成分分析

• 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM)
• 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）
• 场发射环境扫描电镜（SEM）
• 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)

微区结构分析

• 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）
• 环境控制原子力显微镜(AFM)

微区缺陷分析

• 环境控制原子力显微镜(AFM)
• 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）

微区电学-磁学-摩擦学-力学等分析

• 环境控制原子力显微镜(AFM)

有机成分分析

• 双微焦斑单晶XRD(SCD)
• 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD)
• 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
• X射线光电子谱(XPS)

无机成分分析

• X射线多晶衍射仪(PXRD)
• 原位XRD(in-situ XRD)
• X射线光电子谱(XPS)

元素分析

• 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM)
• 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）
• 场发射环境扫描电镜（SEM）
• X射线光电子谱(XPS)
• X射线荧光光谱仪(XRF)

定量分析

• X射线多晶衍射仪(PXRD)
• 原位XRD(in-situ XRD)
• 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
• X射线光电子谱(XPS)

有机化合物结构分析

• 双微焦斑单晶XRD(SCD)
• 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD)
• 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)

无机材料结构分析

• X射线多晶衍射仪(PXRD)
• 原位XRD(in-situ XRD)

生物分子结构分析

• 双微焦斑单晶XRD(SCD)
• 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD)
• 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)

晶胞参数-晶型分析

• X射线多晶衍射仪(PXRD)
• 双微焦斑单晶XRD(SCD)
• 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD)
• 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)

晶体取向-织构分析

• 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）
• 劳厄背散射仪(Laue)

极低温强磁场物性分析

• 无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool)
• 无液氦稀释制冷机(Triton-500)
• 低温探针台(CRX-4K)
• 磁学测量系统（MPMS3）
• 无液氦制冷机（TeslatronPT））

热学性能分析

• 无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool)
• 同步热分析仪(TGA-DSC)
• 差示扫描量热仪(DSC)
• 低温闪射法导热仪(LFA)
• 高温闪射法导热仪(LFA HT)
• 等温滴定微量热仪(ITC)
• 动态热机械分析仪
• 旋转流变仪

力学性能分析

• 电子万能试验机
• 旋转流变仪
• 动态热机械分析仪

电学性能分析

• 塞贝克系数/电阻测量系统
• 无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool)
• 无液氦稀释制冷机(Triton-500)
• 低温探针台(CRX-4K)
• 电化学工作站
• 紫外-可见光谱电化学测试系统
• 无液氦制冷机（TeslatronPT-14T））

磁学性能分析

• 磁学测量系统（MPMS3）
• 综合物性测量系统（PPMS-16T)）

光学性能分析

• 广角动态光散射仪(WADLS)

粒度、密度、弛豫、扩散分析

• 广角动态光散射仪(WADLS)

应力、应变分析

• 原位XRD(in-situ XRD)
• 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)
• 动态热机械分析仪

荧光寿命分析

比表面积、孔隙率、孔径分析

• 比表面积及孔隙分析仪

催化及合成过程分析

• 原位XRD(in-situ XRD)

动力学分析

• 场发射环境扫描电镜（SEM）
• 差示扫描量热仪(DSC)
• 原位XRD(in-situ XRD)

原位电化学分析

• 环境控制原子力显微镜(AFM)
• 电化学工作站
• 原位XRD(in-situ XRD)

变温相变、反应分析

• 场发射环境扫描电镜（SEM）
• 原位XRD(in-situ XRD)

超高真空材料原位生长及分析

• 高通量激光分子束外延(LMBE)
• 角分辨光电子能谱(ARPES)
• 反射式高能电子衍射(RHEED)
• 低能电子衍射(LEED)
• X射线光电子谱(XPS)
• 扫描隧道显微镜(STM)
• 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)

电镜样品制备

• 离子溅射镀膜仪
• 徕卡高真空镀膜仪
• 离子研磨仪

薄膜、块体样品制备

• 高通量激光分子束外延(LMBE)
• 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
• 光学浮区炉(OFZ)
• 真空自动封管系统