理化平台表面物理分析实验室“X射线光电子能谱 XPS”已安装调试完毕,于2019.12.30-2020.1.12向全校征集样品,进行免费测试,地点4号楼104房间。
XPS是组分测量和价态表征的重要工具。理化平台的XPS,除了0.43eV的能量分辨率和1um的平行成像分辨率外,还具备ISS离子散射谱,用于超薄表面的元素鉴定和同位素鉴定;同轴/离轴双电子枪,用于绝缘样品的荷电中和测量;配有Ar离子刻蚀和团簇离子刻蚀,可用于不同材料的深度剖析;配有反射电子能量损失谱(REELS),可用于H元素的分析;配有俄歇光电子能谱分析(AES),空间分辨率可达95nm,并能够实现相应的形貌表征功能(SEM);配有角分辨ARXPS,用于10nm以内各深度的无损XPS分析。
测样须知:
1、样品应为固体材料(粉末、单晶、多晶、薄膜均可),粉末样品需充分粘牢;
2、磁性/铁磁性材料应事先声明并充分粘牢;
3、真空中无挥发性,无释放性;
4、样品厚度一般不超过5mm,尺寸一般不超过20mm*50mm。特殊需求请联系技术员。
5、每个课题组样品数原则上不超过6个,特殊需求请联系技术员。
测样报名方式:发送邮件至朱思源老师邮箱zhusiyuan@westlake.edu.cn,邮件包含样品信息、测试需求、所属课题组等信息。欢迎有需求的老师同学前来咨询,联系人朱思源老师,联系电话13358560163,谢谢大家。
更多设备信息请查看理化平台网站https://iscps.westlake.edu.cn/info/1024/1445.htm,欢迎大家访问!