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    【运行通知】"Bruker D8 Discover 高分辨薄膜X射线衍射仪" 试运行

    时间:2020-03-17 作者:缪晓和 点击:

    理化平台X射线衍射实验室“Bruker D8 Discover 高分辨薄膜X射线衍射仪”已安装调试完毕,试运行阶段(2020.3.9-2020.3.20)向全校征集样品,进行免费测试。

    仪器放置地点:4#112

    Bruker D8 Discover 高分辨薄膜X射线衍射仪能进行薄膜取向(Phi scan)、薄膜缺陷(Rocking curve)、物相鉴定(2theta-omega)、快速倒易空间成像(RSM)、膜厚分析(XRR)、小角掠射(GID)、面内分析(IP-GID)、微区物相等分析(分析膜厚≥10nm的薄膜);该设备配备的转靶点焦Cu光源及双探测器(LynxEye探测器和scintillation counter)可大幅度提高测试强度及分辨率;此仪器配有高低温系统TC-DOME,可覆盖-150°C到450°C的低温段及室温到1100°C的高温段的薄膜样品测试。

    更多设备信息请查看理化平台网站https://iscps.westlake.edu.cn/info/1024/1201.htm,欢迎大家访问!

    测样须知:

    1. 不测试有毒性、腐蚀性样品;

    2. 块状样品要求:测试面清洁平整,也可是板状、片状,带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状,厚度≤1mm,直径≤2cm。

    3. 对于测反射率的样品,一般要求样品大于10mm*10mm,且薄膜的厚度小于100nm。

    4. 告知测试的起始角度与测试内容,2θ角扫描范围须在1°~100°之间;

    5. 易变质样品需提前与XRD负责人联系,预约测试时间,请注明样品保存条件,如常规、冷冻、干燥、冷藏、避光等。

    报名方式:发送邮件至缪晓和老师 miaoxiaohe@westlake.edu.cn,邮件包含样品信息、测试需求、所属课题组等信息。欢迎有需求的老师同学前来咨询,联系人缪晓和老师13071882787,谢谢大家!

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