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仪器设备

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    高分辨分析型场发射扫描电镜(Zeiss Gemini450 SEM)

    仪器编号:

    联系方式:

    放置地点:云谷校区E10-131

    开放范围:自主测试:校内 送样测试:校内、校外

    自主操作 送样检测

    实验室:微结构与形貌表征实验室

    职位:

    邮箱: caowenjing@westlake.edu.cn

    仪器编号 联系方式
    放置地点 云谷校区E10-131 开放范围 自主测试:校内 送样测试:校内、校外
    自主操作 https://share.westlake.edu.cn/lims/!equipments/equipment/index.612.reserv 送样检测 https://share.westlake.edu.cn/lims/!equipments/equipment/index.612.sample
    实验室 微结构与形貌表征实验室 职位
    邮箱 caowenjing@westlake.edu.cn
    • 仪器设备信息
    • 技术资料
    • 收费标准
    仪器编号
    规格 822*1082*1757mm
    生产厂家 Zeiss 型号 Gemini450
    制造国家 Germany 分类号 010102
    放置地点 云谷校区E10-131 出厂日期 2020/2/17
    购置日期 2020/3/3 入网时间 2020/5/15
    主要规格及技术指标

    二次电子分辨率: 15 kV @ 0.7 nm;1 kV @ 1.1 nm(非减速模式)

    分析分辨率:15kV@2.0 nm (5nA,工作距离8.5mm)

    背散射电子分辨率: 1 kV @ 1.2 nm

    放大倍数:12 ~ 2000000倍

    电子枪类型::肖特基场发射灯丝,最大束流40 nA

    主要功能及特色 在满足常规的SEM成像应用外,该电镜具备对样品更快的响应和更高的表面灵敏度,Gemini2电子光学镜筒可以快速连续的调节电子束流,对样品进行表面成像,以及快速便捷的EDS能谱和EBSD分析,对不导电样品、磁性样品同样可以高效分析。该电镜配备了蔡司的In-lens SE、In-lens EsB、样品室内E-T SE、aBSD 探测器用于成像分析;蔡司的CL探测器用于阴极荧光成像表征、牛津的EDS、EBSD探测器用于样品的能谱和电子背散射衍射分析。结合以上配置,该设备具备强大的分析功能,满足多种材料多种领域的电镜分析要求。
    主要附件及配置
    检测器包括镜筒内二次电子探测器InLens,镜筒内背散射电子探测器ESB,二次电子探测器SE2,背散射电子探测器BSD,CL探测器;样品室内配备等离子清洗装置,红外CCD相机;配备样品交换舱,消磁防震系统;配备能谱仪EDS (Oxford, Ultim EXTREME)、电子背散射衍射仪EBSD (Oxford, Symmetry)


    技术资料:场发射环境扫描电镜的标准操作流程

    /R043gaofenbianfenxixingchangfashesaomiaodianjingZeissGemini450biaozhuncaozuoguichengV2.pdf




    类型

    项目

    细则

    校内收费

    校外收费

    说明

    自主上机

    自主操作

    需预约并经过培训和考核

    330/

    /

    /

    委托测试

    形貌观察、元素分析

    形貌成像(SE)、BSD成像、CL成像(仅成像)、EDS分析(谱峰、线扫、面扫)

    160/样或480/


    220/样或660/


    1.每个样品限时20min,超出后将按照实际机时收费;

    EBSD数据采集及分析

    /

    480/

    660/

    1.用户需提供样品晶相、晶粒尺寸等相关基础信息。

    镀金

    镀层为Au 5nm

    60/次或6/nm

    100/

    1.SEM镀膜,按次收费;

    2.镀电极,按厚度收费(限校内用户);

    3.不接受单独送样。

    镀铂

    镀层为Pt 3-5nm

    镀碳

    镀层为5nm

    培训

    仪器培训

    一对一/一对二培训;同等内容的第二次培训,收费1.5

    480/

    /

    /


    版权所有 © 西湖大学浙ICP备16029590号

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