仪器编号 |
9930457 |
规格 |
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生产厂家 |
赛默飞 |
型号 |
Spectra Ultra |
制造国家 |
美国 |
分类号 |
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放置地点 |
E10-183 |
出厂日期 |
2022/07/25 |
购置日期 |
2024/05/24 |
入网时间 |
2024/05/24 |
主要规格及技术指标 |
1、加速电压(Accelerating Voltage):30kV,60kV,80kV,200kV,300kV 2、TEM信息分辨率(Information Resolution)::≤60pm@300kV;≤80pm@200kV:≤90pm@80kV:≤100pm@60kV;≤110pm @30kV 3、STEM分辨率(Resolution):≤50pm@300kV:≤60pm@200kV;≤96pm@80kV:≤96pm@60kV;≤125pm@30kV, STEM分辨率指标均在30pA以上束流条件下获得 4、扫描透射系统(STEM):高角环形暗场探头(HAADF)、明场探头(BF)、环形暗场探头(ADF) 5、Super-X EDS能量分辨率(Energy Resolution):≤136 eV(Mn-Kα) 6、洛伦兹分辨率(Lorentz Resolution):≤1nm 7、相机(Camera):Gatan OneView IS、K3 |
主要功能及特色 |
1、高分辨率STEM成像,可同时获取原子级BF/AB(D)F/DF/HAADF图像;High quality STEM imaging, acquiring atomic-level BF/AB(D)F/DF/HAADF images simutanously; 2、其中DF4探头由4个部分组成可获取DPC和iDPC图像;Obtaining DPC and iDPC images 3、快速EDS点、线、面扫描(原子级);Efficient EDS ponit analysis, line profile and mapping (atomic level); 4、4D-STEM; 5、能量过滤透射电镜成像和电子能量损失谱分析;Energy Filtered TEM (EFTEM) imaging and analysis of Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) ; 6、电子衍射分析;Electron diffraction analysis; 7、TEM、STEM和EDS三维重构;Tomography in TEM, STEM and EDS mode; 8、洛伦兹成像;Lorentz imaging; 9、结合原位样品杆开展原位实验。Performing in-situ experiments with in-situ holders; |
主要附件及配置 |
1、透射电镜操作培训;TEM/STEM operation trainning; 2、高分辨成像:High resolution TEM/STEM imaging. |
开放预约 |
物理、化学、生物、材料、能源、电学等学科领域。Physics, Chemistry,biology, Materials, Energy, electrics, etc. (1)无磁性(non-magnetic) (2)按规范制备的样品(Properly prepared sample) |