3月3日，物质科学公共实验平台举办高分辨薄膜XRD技术讲座，Bruker应用工程师杨宁博士做“高分辨薄膜XRD分析技术在薄膜材料中的应用分享”的应用报告，介绍了平台目前配置的高分辨薄膜XRD的硬件配置和特色应用介绍。 此次共有23名理学院与工学院师生参加交流会，全面而详细了掠入射扫描（GID）、反射率测量（XRR）以及高分辨衍射（HRXRD）、面内面外扫描和倒易空间成像扫描（RSM）等，并结合具体材料演示测量的数据和分析结果。
高分辨薄膜XRD（HR TF XRD）可在微观尺度下观察材料的结构信息，它兼顾单晶外延薄膜的结构表征，如rocking curve看薄膜缺陷、HR RSM看relaxation；及多晶薄膜的表征，如XRR看薄膜厚度，GID看各膜层的深度剖析；另外由于此设备是国内最先进的转靶点焦配置，因此可进行微区XRD测量。结合变温的原位台，温区范围覆盖液氮温度到最高温1100度的范围，讲薄膜样品的结构随温度的变化进行可视化。现场老师同学们与工程师进行了热烈的讨论，收益颇丰。
最后交流会结束前邀请了陆启阳老师课题组的胡杨同学，基于PLD生长的外延薄膜材料结合高分辨XRD的分析技术做了现场经验分享，并针对他们的样品生长与测试与工程师进行深度交流。
本次高分辨XRD交流邀请的杨宁博士是Bruker国际应用专家兼应用团队经理，具有非常丰富的XRD使用经验。杨宁博士从事X射线衍射方法研究30年左右，目前在布鲁克（北京）科技有限公司担任国际应用专家&应用经理。1997年，北京科技大学本科毕业，聚焦于稀土永磁的研究；2000年基于高分辨衍射应用课题在清华大学材料科学与工程系获得硕士学位。2004年专研同步辐射研究稀土永磁课题获得美国爱荷华州立大学博士学位。2004~2006年期间在美国阿贡国家实验室从事同步辐射光源的衍射应用的博士后研究工作。之后在Bruker AXS美国分公司担任XRD应用专家，提供售前和售后应用支持，直至2010年1月开始在布鲁克（北京）科技有限公司任职。
